Descrizione
FUJINON XF16-80mm F4 R OIS WR
Adatto a un’ampia varietà di situazioni di ripresa, FUJIFILM XF 16-80 mm f/4 R OIS WR è uno zoom versatile equivalente a 24-120 mm, che spazia dal grandangolo al teleobiettivo medio e con un massimo costante di f/4 apertura. Un rivestimento Super EBC migliora anche il contrasto e la neutralità del colore riducendo i bagliori e le immagini fantasma quando si lavora in condizioni di forte illuminazione. Un altro vantaggio per l’uso in una varietà di situazioni è un sistema di messa a fuoco automatica rapido e silenzioso insieme a un sistema di stabilizzazione dell’immagine a sei stop che riduce al minimo l’aspetto del movimento della fotocamera.
-Lo zoom standard è progettato per fotocamere mirrorless Fujifilm X-mount in formato APS-C e offre una gamma di lunghezze focali equivalenti di 24-120 mm.
-Viene utilizzato un elemento asferico a bassissima dispersione per ridurre notevolmente le frange di colore e le aberrazioni cromatiche al fine di produrre un’elevata chiarezza e fedeltà dei colori.
-Tre elementi asferici controllano la distorsione e le aberrazioni sferiche, il che aiuta a migliorare la nitidezza e a realizzare un rendering più accurato.
-Un rivestimento Super EBC (Electron Beam Coating) è stato applicato all’intera superficie di ciascun elemento per controllare l’effetto fantasma e il bagliore per un maggiore contrasto e precisione del colore.
-Le prestazioni di messa a fuoco automatica rapida e silenziosa avvantaggiano sia le immagini fisse che le applicazioni video.
-Un avanzato sistema di stabilizzazione ottica dell’immagine riduce al minimo l’aspetto del movimento della fotocamera fino a sei stop per scattare immagini più nitide.
-Il corpo dell’obiettivo a tenuta stagna protegge da polvere e umidità e consente un utilizzo senza problemi in condizioni avverse e temperature di congelamento fino a 14 ° F.
-Il diaframma a nove lamelle arrotondato contribuisce a una piacevole qualità di sfocatura a vantaggio dell’uso della messa a fuoco selettiva e delle tecniche di profondità di campo ridotta.
